Aksesoris Laboratorium
Pengukuran Ketebalan Lapisan
ACZET Stark pada LogamAnalisis XRF ACZET Stark adalah perangkat khusus yang dirancang untuk mengukur ketebalan lapisan pada permukaan logam secara tepat dan menentukan kandungan emas dan perak dalam perhiasan dan paduan logam. Alat ini menggunakan teknologi fluoresensi sinar-X (XRF) mutakhir, yang memungkinkan analisis unsur yang cepat, akurat, dan tidak merusak. Sistem ini dilengkapi dengan tabung sinar-X berkinerja tinggi dan sejumlah detektor canggih, sehingga ideal untuk berbagai aplikasi industri dan pengendalian mutu.
Fitur
1. Tabung Sinar-X Berkinerja Tinggi
Dilengkapi tabung sinar-X target tungsten fokus mini dengan ukuran titik berkisar antara 0,2 mm dan 0,8 mm, yang memungkinkan pengukuran dan analisis permukaan beresolusi tinggi.
2. Opsi Detektor Serbaguna
Pilih dari Penghitung Proporsional Berisi Gas, Detektor PIN Silikon, atau Detektor Pergeseran Silikon (SDD) untuk deteksi berbagai unsur secara tepat, tergantung pada kebutuhan aplikasi Anda. 3. Kolimator yang Dapat Ditukar
Mendukung kolimator standar berdiameter 0,3 mm dan 0,5 mm, dan dapat ditingkatkan secara opsional dengan pengubah kolimator empat posisi untuk kondisi pengukuran yang fleksibel.
4. Integrasi Perangkat Lunak Cerdas
Parameter sinar-X dioptimalkan secara otomatis oleh perangkat lunak yang intuitif, meminimalkan kesalahan pengguna dan meningkatkan pengulangan hasil.
5. Bentuk yang Kompak dan Praktis
Dirancang dengan tahap sampel tetap dan dimensi yang ringkas, sistem ini cocok untuk lingkungan produksi dan pengaturan laboratorium.
Aplikasi
1. Pengujian Ketebalan Lapisan Logam
Mengukur lapisan pelapis logam (misalnya, nikel, kromium, seng) secara akurat dalam operasi manufaktur dan finishing.
2. Analisis Emas dan Perak
Umumnya digunakan dalam produksi dan penilaian perhiasan untuk menentukan kandungan logam mulia tanpa merusak barang.
3. Verifikasi Kandungan Paduan
Membantu memverifikasi komposisi paduan logam dalam produk industri untuk memastikannya memenuhi spesifikasi yang diperlukan. 4. Industri Elektronik
Ideal untuk menilai ketebalan pelapisan pada komponen elektronik dan papan sirkuit untuk menjaga kinerja dan kualitas produk.
5. Penelitian Ilmiah
Dimanfaatkan di laboratorium untuk pengujian material, termasuk metalurgi dan studi komposisi elemen.
Spesifikasi
* Arah Pengukuran: Bawah ke Atas
* Aplikasi: Ketebalan pelapisan pada logam; kandungan emas dan perak dalam perhiasan dan paduan
* Tabung Sinar-X: Target tungsten mini-fokus, ukuran titik 0,2 mm hingga 0,8 mm
* Tegangan Tinggi: Hingga 50 kV (1,2 mA), dikendalikan perangkat lunak
* Detektor: Penghitung Prop Berisi Gas / PIN Silikon / SDD
* Waktu Pengukuran: 60 hingga 180 detik
* Kolimator: 0,3 mmØ atau 0,5 mmØ (multi-kolimator opsional)
* Tahap Sampel: Posisi tetap
* Catu Daya: 230 VAC, 50/60 Hz, 120 W / 100 W
* Dimensi Ruang: 330 x 200 x 170 mm
* Dimensi Keseluruhan: 500 x 652 x 500 mm
* Perkiraan Berat: 32 kg
